絕緣電阻測(cè)試是適用于各種電氣設(shè)備的最常見(jiàn)的測(cè)試技術(shù)之一，因此我們不為借此機(jī)會(huì)研究一些經(jīng)常被問(wèn)到的與這個(gè)重要主題相關(guān)的基本問(wèn)題而道歉。
問(wèn)：進(jìn)行絕緣電阻測(cè)試的原因是什么？
答：這類(lèi)測(cè)試通常快速且相對(duì)容易執(zhí)行，并且只需要常用的測(cè)試設(shè)備。然而，它可以為絕緣的潛在弱點(diǎn)提供寶貴的早期預(yù)警，如果不加以注意，可能最終導(dǎo)致代價(jià)高昂且具有破壞性的使用中故障。
問(wèn)：極化指數(shù)（PI）測(cè)試與普通絕緣測(cè)試有何不同？
答：在極化指數(shù)測(cè)試中，測(cè)試對(duì)象的絕緣電阻連續(xù)測(cè)量10分鐘。然后測(cè)試儀會(huì)自動(dòng)顯示10分鐘后測(cè)得的電阻與一分鐘后測(cè)得的電阻之比。這個(gè)比率就是極化指數(shù)。如果絕緣狀況良好，PI將為2.0或更高。如果結(jié)果低于此值（比率可能小于1.0），則表明存在問(wèn)題。這可能不會(huì)比表面污染更糟糕，但所有小于2.0的PI測(cè)量值表明需要進(jìn)一步調(diào)查。
問(wèn)：介電吸收比（DAR）測(cè)試有何作用？
答：DAR測(cè)試和PI測(cè)試一樣是一種定時(shí)絕緣測(cè)試，但涉及的時(shí)間更短。對(duì)于DAR測(cè)試，在施加測(cè)試電壓30秒后測(cè)量絕緣電阻，并在施加60秒后再次測(cè)量。DAR是兩個(gè)結(jié)果的比率。由于測(cè)試時(shí)間較短，因此DAR測(cè)量通常低于PI測(cè)量。通常，如果被測(cè)絕緣狀況良好，DAR將為1.4或更高。
問(wèn)：什么是階躍電壓（SV）絕緣測(cè)試？
答：對(duì)于SV測(cè)試，在不同的測(cè)試電壓下進(jìn)行兩次或兩次以上的短時(shí)絕緣測(cè)試。第一次測(cè)試使用低測(cè)試電壓，例如500V，第二次測(cè)試使用過(guò)電壓，例如2.5kV。無(wú)論測(cè)試電壓如何，理想的絕緣體都會(huì)給出相同的讀數(shù)。但是，如果較高電壓測(cè)量顯示的電阻值低于低電壓測(cè)試，則表明絕緣中可能存在裂縫或空隙。
問(wèn)：什么是斜坡電壓絕緣測(cè)試？
答：斜坡電壓測(cè)試可以看作是SV測(cè)試的“溫和”替代方案。該測(cè)試不是逐步增加測(cè)試電壓，而是緩慢升高測(cè)試電壓，直到達(dá)到所需的過(guò)電壓。此程序的優(yōu)點(diǎn)是，如果在測(cè)試電壓穩(wěn)定增加期間，被測(cè)絕緣中的電流開(kāi)始迅速增加，則可以在絕緣永久損壞之前終止測(cè)試。
問(wèn)：一些絕緣測(cè)試儀包括過(guò)濾功能。這有什么作用以及它如何改善結(jié)果？
答：提供過(guò)濾是為了減少電噪聲對(duì)絕緣測(cè)試儀產(chǎn)生的結(jié)果的影響。在工業(yè)裝置和變電站等嘈雜環(huán)境中進(jìn)行絕緣測(cè)試時(shí)，它特別有用。絕緣測(cè)試儀可能包括硬件和軟件過(guò)濾。硬件濾波器的性能通常被指定為噪聲抑制的毫安值。
通常，用于通用和工業(yè)應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)儀器將提供3mA的噪聲抑制。高端型號(hào)適用于變電站和類(lèi)似要求苛刻的位置，可提供高達(dá)8mA的噪聲抑制。通常提供額外的軟件過(guò)濾以消除瞬時(shí)錯(cuò)誤測(cè)量并提高讀數(shù)的穩(wěn)定性。
問(wèn)：通用絕緣測(cè)試儀可以用來(lái)測(cè)試變壓器嗎？
答：通用絕緣測(cè)試儀可用于對(duì)變壓器進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試，但由于其中使用了復(fù)雜的油纖維素絕緣系統(tǒng)，因此很難準(zhǔn)確解釋測(cè)試結(jié)果。絕緣電阻測(cè)試既是對(duì)已停止運(yùn)行的變壓器的首次測(cè)試，因?yàn)樗梢钥焖俅_定絕緣系統(tǒng)是否完全失效，并且作為評(píng)估變壓器鐵芯絕緣的正確測(cè)試，因此受到青睞。否則，應(yīng)使用專(zhuān)用的變壓器測(cè)試設(shè)備對(duì)變壓器進(jìn)行絕緣測(cè)試。
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